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目录:广东德瑞检测设备有限公司>>老化试验箱>>HAST老化试验箱>> HAST寿命试验箱

HAST寿命试验箱
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参考价 98000
订货量 ≥5
具体成交价以合同协议为准
98000
≥5
具体成交价以合同协议为准
  • 品牌 Derui/德瑞检测
  • 型号
  • 厂商性质 生产商
  • 所在地 东莞市
属性

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更新时间:2024-04-15 12:53:30浏览次数:521评价

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产地类别 国产 工作室尺寸(L×W×H) 350*500mm
价格区间 5万-10万 温度波动度 1℃
温度范围 105~147℃ 温度均匀度 1℃
应用领域 能源,电子,航天,汽车,电气 最高温度 160
内箱材质 316
HAST寿命试验箱是一种用于加速湿热条件下芯片、元器件等电子产品的老化失效试验设备。HAST全称为Highly Accelerated Stress Test,即高度加速应力试验。它可以在相对较短的时间内对电子元器件的性能和可靠性进行评估,节省了测试时间和成本。HAST试验箱主要包括试验箱本体、加热系统、加湿系统、压力系统、温湿度控制系统、安全保护系统等部分。广泛包括集成电路、半导体器件、电子元


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HAST寿命试验箱控制系统:
1.採用臺制臺达彩色触控式PLC控制湿度和蒸汽温度(採用PT-100白金感温体).
2.採用指针显示压力錶.
3.微电脑P.I.D自动演算控制饱和蒸气温度和蒸汽湿度.
4.手动入水阀(自动补水功能,可不停机连续试验).
hast高压加速寿命试验箱满足标准
1.GB/T10586-1989湿热试验室技术条件;
2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验;
3.MIL-STD810D方法502.2;
4.GJB150.9-8温湿试验;5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度、高压组合循环试验;

HAST寿命试验箱在以下领域具有广泛的应用:

集成电路(IC):HAST试验箱可以对芯片进行加速老化测试,评估其在高温高湿环境下的可靠性和寿命,帮助提高芯片的质量和稳定性。

半导体器件:HAST试验箱可用于测试各种类型的半导体器件,包括二极管、晶体管、功率模块等。通过加速老化测试,可以评估器件的可靠性和失效机制。

电子元器件:HAST试验箱适用于各种电子元器件的寿命测试,如电容器、电阻器、电感器、连接器等。它可以模拟潮湿环境对元器件的影响,评估其性能和可靠性。

航空航天器件:HAST试验箱可用于测试航空航天器件的可靠性和耐久性,包括航天器电子设备、传感器、通信设备等。它可以模拟航空航天环境中的高温高湿条件,评估器件在环境下的性能。

汽车电子:HAST试验箱在汽车电子领域的应用越来越广泛。它可以对汽车电子元器件进行寿命测试,评估其在潮湿环境下的可靠性和耐久性,确保汽车电子系统的稳定运行。

医疗电子:HAST试验箱可用于测试医疗电子设备的可靠性和耐久性,如医疗监护仪、手术设备、诊断设备等。它可以模拟医疗环境中的高温高湿条件,评估设备在长期使用中的性能表现。


 

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