GB/T 12085.13-2010光学和光学仪器  环境试验方法第13部分∶冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验

1  范围

本部分规定了冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。

本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

本试验目的是研究试样的光学、热学、力学、化学和电学性能受到冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温影响变化的程度。2  规范性引用文件

下列文件中的条款通过GB/T12085的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。

GB/T 2423.43  电工电子产品环境试验  第2部分∶试验方法  振动、冲击和类似动力学试验样品的安装（GB/T2423.43—2008，IEC60068-2-47∶2005，IDT）

GB/T12085.1  光学和光学仪器  环境试验方法  第1部分∶术语、试验范围（GB/T12085.1—2010,ISO 9022-1:1994,MOD)

GB/T12085.2 光学和光学仪器 环境试验方法 第2部分∶低温、高温、湿热（GB/T12085.2—2010,ISO 9022-2:2002,MOD)

GB/T12085.3 光学和光学仪器 环境试验方法 第3部分∶机械作用力（GB/T 12085.3一2010,ISO 9022-3:1998,MOD)3  试验条件

试样在综合机械作用力条件下的试验要比前述的任一种环境条件试验更严酷。表中的指zhi定温度数值选自GB/T12085.2条件方法10和11。试验按GB/T12085.3的要求进行。试样的夹具按GB/T 2423.43规定的要求，并应隔热，若试样装在缓冲器上，则应考虑缓冲器元件恒温的时间。4  条件试验4.1  总则

试样各部分都应达到试验箱（室）温度3K以内才开始试验。对于散热型试样，在温度稳定的试验箱（室）内试样的温度变化在每小时不超过1K时作为开始（或终止）暴露周期的时间，试样温度达到稳定的最后1h作为暴露周期的最初1h。4.2  条件试验方法64∶冲击与高温综合试验

条件试验方法64冲击与高温综合试验的严酷等级按表1。试验采用半正弦冲击波，试样在三个轴线方向均受到三次冲击。4.3  条件试验方法65∶碰撞与高温综合试验

条件试验方法65碰撞与高温综合试验的严酷等级按表2。

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