SRM 2074 正弦粗糙度试样标准品(NIST) 返回列表页

 SRM 2074 正弦粗糙度试样标准品(NIST) 是一种正弦轮廓粗糙度样品，经过平均粗糙度 Ra 和表面空间波长 D 认证。SRM 旨在用作校准用于测量表面粗糙度的触针仪器的标准。 SRM 2074 是标称努普硬度 (HK) 500 的钢块，已通过化学镀镍工艺进行了涂层。在数控车床上使用单点金刚石工具在端面操作中将正弦粗糙度轮廓加工到试样的顶面上。

该样品的认证 Ra 和 D 值及其相关的扩展不确定度为：

 平均粗糙度 (Ra)              µm 样品±0.013 （个人认证）

 表面波长 (D), µm                             39.998 + 0.048

                                                                     – 0.013

此 SRM 最初于 1992 年 5 月校准和认证，当时 NIST 不确定性政策使用 k = 3 的覆盖因子来报告 NIST 测量不确定性，并于 2009 年 11 月 24 日重新认证。从 1993 年到 2008 年，此校准结果一直持续通过对 NIST 检查标准 SRM 2073-1104 进行 89 次常规测量来监测。 NIST 检查标准 SRM 2073-1104 是一种正弦轮廓粗糙度试样，标称值为 Ra = 3 µm 和 D = 100 µm，它由与 SRM 2074 正弦曲线相同的材料和相同的制造工艺制成轮廓粗糙度试样。具有动态和固定控制限值的动态控制图 [1] 用于监测 SRM 样品的认证 Ra 值的长期变化。检查测量结果表明在不确定范围内具有很高的测量再现性，并且没有显示任何显着的变化或漂移。

处理、储存和使用说明

储存： SRM 2074 正弦粗糙度试样标准品(NIST) 应存放在其原始木箱中，在 10 C 和 30 C 之间的清洁干燥环境中。

处理和使用：请注意，包含在 D 结果中的每个测量值都是至少 100 个空间周期的平均值。因此，用户在使用空间波长 D 执行的任何校准中都应包括至少 100 个周期。对于认证测量，测针力约为 4 × 10–4 N。该力对硬质金属表面造成的损坏可以忽略不计；但是，表面上可能会看到微弱的手写笔痕迹。反复使用触针仪器会慢慢降低粗糙度样品；但是，如果这些测量是在干净、未损坏的区域进行的，则预计样品将保持其校准值。