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日立FIB-SEM三束系统追求的TEM样品制备工具在设备及高性能纳米材料的评价和分析领域,FIB-SEM已成为*的工具。近来,目标观察物更趋微细化;更薄,更低损...
高精度实时三维分析FIB-SEM三束系统通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察,采集一系列连续截面图像,并重构特定微区的三维结构。采用的镜筒布局,从*材...
高性能FIB-SEM系统高性能与高灵活性兼备“Ethos"采用日立高新的核心技术--的高亮度冷场发射电子枪及新研发的电磁复合透镜,不但可以在低加速电压下实现高分...
日立球差场发射透射电子显微镜200 kV相差校正TEMTEM,平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、...
日立扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II,凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器,可在加速电压20 kV下实现4.0 nm的分辨率。全新开发的用户...
超高分辨肖特基场发射扫描电镜SU7000不仅可以在低加速电压下获得高画质图像,而且还可以同时接收多种信号。此外,它还具备大视野观察、In-Situ观察等FE-S...
日立钨灯丝扫描电子显微镜日立全新一代高分辨钨灯丝扫描电镜SU3800采用全新的HexBias偏压技术,使其低电压性能大大提升,同时升级的高灵敏度背散射探测器和可...
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