QNIX测厚仪 返回列表页

qnix8500-QNIX测厚仪

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测厚仪按照测量的方式不同，可大致分为：

1、接触式测厚仪

接触面积大小划分：

点接触式测厚仪

面接触时测厚仪

2、非接触式测厚仪

非接触式测厚仪根据其测试原理不同，又可分为以下几种：

激光测厚仪

超声波测厚仪

涂层测厚仪

X射线测厚仪

白光干涉测厚仪

电解式测厚仪

管厚规

qnix8500-QNIX测厚仪

QNix8500涂镀层测厚仪一体分体通用，带菜单操作，是一种智能化的测厚仪。可通过更换探头来满足不同的测量需求，可存储数据，并且可与计算机进行无线传输。探头可直接与主机连接，进行一体化测量，也可通过探头电缆线来与主机连接，进行分体测量。分体测量操作简单，可很大程度上避免误操作产生的误差。

德国Automation公司成立于1958年。长期以来一直致力于开发、研制、生产涂层测厚仪。早在公司创始人尼克斯（Dr.Nix）博士的父亲即开始研究涂层测厚仪。自发明世界上*台测厚仪以来，尼克斯家族经过几代人的努力，为测厚仪领域做出了杰出贡献。同时，也保持了技术。在仪器的精度和抗干扰性方面，注册了多项。成为当今涂层测厚仪的*优点。

涂层测厚仪工作原理

涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂层厚度。

技术参数：

qnix8500-