霍尔效应瓶壁测厚仪FH7200* 返回列表页

霍尔效应瓶壁测厚仪FH7200*

自1948年德国Steingoever博士发明*台利用磁吸力原理的测厚仪以来，德国EPK公司一直是表面科技的*之一、是无损涂层厚度测量的。 ElektroPhysik公司(简称EPK)总部位于德国科隆，是生产表面检测仪器的，有超过60年的市场经验，研发和生产了品种繁多的的测量仪器。质量是EPK的主要目标，EPK从研发到使用、维修各个环节，都符合ISO 9001：2000质量体系，始终为每一个应用领域提供适合的产品。

EPK在不断开发和创新科技产品过程中，赢得了良好的声誉。作为无损检测厚度行业的*，EPK与国内的研究所和大学合作，实现了涂层厚度测量的成功发展和标准化。将来，EPK将全力发展自己的产品以符合zui高技术要求。

化的今天，EPK在世界各地都设有自己的分支机构和经销商。

霍尔效应瓶壁测厚仪FH7200*

准确测量厚度  

●适用于非磁性材料的测量  

●测量厚度高达10mm  

●是复杂形状的瓶子、铝罐、玻璃和塑胶工件的理想测量工具  

●用户菜单控制界面  

●上下文关联的在线帮助  

●统计过程控制功能  

FH7200壁厚测厚仪功能特点：

*准确测量厚度
*适用于非磁性材料的测量
*测量厚度高达10mm
*是复杂形状的瓶子、铝罐、玻璃和塑胶工件的理想测量工具
*用户菜单控制界面
*上下文关联的在线帮助
*统计过程控制功能
*高精度厚度测量