中仪科信粒度分布测试仪故障维修小窍门

中仪科信粒度分布测试仪故障维修小窍门，优点是简单直观

下面内容应涵盖激光粒度仪数据漂移的大部分问题(不包括仪器的功能故障问题)，希望对所有激光粒度仪用户有所帮助。

下面我们将介绍一些会导致激光粒度仪的常见问题：
1、镜头和测试窗口被污染
2、激光光路偏移
3、进样系统的循环、分散效能波动
4、光电探测器及其放大电路参数偏移
5、测量参数及测量条件变动

这种假设在大多数情况下是不能接受的，例如:样品在流动生产过程中，单独监测颗粒大小是不准确的，有些粒子可能是球形，一些可能是矩形，球形颗粒比长方形颗粒流动性更好，互信息函数法能准确地测出电机转速，同时，由于互信息函数自身的优点-一能实际地反映出数据之间的相互关联其中以一级品，二级品居多

粒度仪常见故障预防措施：
透镜光学仪器的污染是一种常见的故障。粉检测设备,激光粒度分析仪经常面临着尘土飞扬的环境中,和test窗口透镜是一个光学器件,可以直接联系粉末样品。聚焦透镜或准直透镜等光学透镜受到环境中的浮尘或霉变的污染，会在纯测量光束中产生杂散光。这些杂散光将混合到样品的散射光干扰测试;测量窗口镜片上的污染物会直接产生强烈的散射光。

3.2实验光路的设计及光学器件的选择3.2.1实验光路图3-1Mie散射实验光路图如图3-1所示，进行Mie散射实验，zui主要的问题就是如何将颗粒的散射光强进行更加的探测 中粉指60~160目的粉末，细粉160目到300目，300目以上属于超细粉，但根据不同原料的易粉碎程度，超细分类有所不同，对于一些化合物如碳酸钙来讲300目只能算是粗粉，超细又粒径均匀的塑料粉末克服了其他粉末颗粒缺点

激光水平仪故障排除解决方案—激光水平仪可以看作是复杂的工具，特别是如果您不熟悉使用该设备或其他型号的经验。在该单位停止工作中的故障时，它确实会引起不必要的焦虑和不必要的延迟。在将其发送给进行充分修理之前，您可以执行一些陷阱来解释问题。

半导体晶硅片的切割刃料环节，粒度大小对碳化硅的影响碳化硅微粉是zui主要用于多线切割机上的磨料之一，微粉的粒型及粒度是硅片表片的光洁程度和切割能力的关键，碳化硅微粉的粒型及粒度，砂浆的黏度，砂浆的流量如水泥颗粒磨细些

中仪科信粒度分布测试仪故障维修小窍门

的计算可采用Lentz的连分式算法：（2-2-15）而Lentz证明有如下关系：（2-2-16）其中，上式用表示则可写成如下递推关系：（2-2-17）注意到时，因此可由上式递推出符合精度要求的 激光粒度分析仪的功能越来越强大，用户的可选择性也越来越多，如何选择一款性价比较高的仪器成为用户关心的问题，本文讨论影响激光粒度分析仪性价比的几点关键因素，仪器测试范围及分辨率同价位下，客户往往都会选择仪器测试范围更宽的厂家 采用紊流分散技术，利用激波的剪切效果，使颗粒样品达到充分的分散，理由分散系统关键部位采用耐磨陶瓷，不仅提高了使用寿命，而且还保证测试结果更加准确和稳定，理由控制面板的无级变速按钮，不受档数的限制，能够自由调节喂料速度