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CT440/440-PDL - 无源元器件测试仪
紧凑的测试仪，用于快速、准确地鉴定无源光元器件
主要优点
快速测量变化函数
波长范围为1240-1680 nm（SMF型号）
PM和PDL选件
波长分辨率为1-250 pm
波长精度为±5 pm
单次扫描的动态范围为65 dB
多可结合4个可调谐激光器（SMF型号）
配备四个内部检测器，可通过同步进行扩展
EXFO s紧凑型CT440让您快速准确地测试无源光学组件(如MUX/DEMUX，滤波器，分配器)和模块(ROADM, WSS)。
更重要的是，该装置覆盖了从1240到1680 nm的光谱范围，允许在整个电信波段进行测量。
通过PDL选项，CT440可以同时测量插入损耗和偏振相关损耗。
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