HD9000A抗干扰介质损耗测试仪

功能特点

1、变频抗干扰

采用变频抗干扰技术，在200%干扰下仍能准确测量，测试数据稳定，适合在现场做抗干扰介损试验。

2、高精度测量

采用数字波形分析和电桥自校准等技术，配合高精度三端标准电容器，实现高精度介损测量。

仪器所有量程输入电阻低于2Ω，消除了测量电缆附加电容的影响。

3、多级安全保护，确保人身和设备安全

高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能以短路方式高速切断输出。

低压保护：误接380V、电源波动或突然断电，启动保护，不会引起过电压。

接地保护：仪器接地不良使外壳带危险电压时，启动接地保护。HD9000A抗干扰介质损耗测试仪

C  V  T：高压电压和电流、低压电压和电流四个保护限，不会损坏设备；误选菜单不会输出激磁电压。CVT测量时无10kV高压输出。

防误操作：两级电源开关；电压、电流实时监示；多次按键确认；接线端子高/低压分明；缓速升压，可迅速降压，声光报警。

防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。

抗震性能：仪器采用*抗震设计，可耐受强烈长途运输震动、颠簸而不会损坏。

高压电缆：为耐高压绝缘导线，可拖地使用。

4、功能强大，产品系列化

HD9000A抗干扰介质损耗测试仪技术指标：

1、试验环境温度：10℃～30℃（LCD液晶屏应避免长时间日照）

2、相对湿度：20%～80%

3、供电电源：电压：220V±10%，频率50±1Hz

4、外形尺寸：长*宽*高=470mm*320mm*360mm

5、重量：18kg

6、输出功率：1.5KVA

7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）

8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法

9、测量范围：内接试验电压

工作原理：

在交流电压作用下，电介质要消耗部分电能，这部分电能将转变为热能产生损耗。这种能量损耗叫做电介质的损耗。当电介质上施加交流电压时，电介质中的电压和电流间存在相角差Ψ，Ψ的余角δ称为介质损耗角，δ的正切tgδ称为介质损耗角正切。tgδ值是用来衡量电介质损耗的参数。仪器测量线路包括一标准回路(Cn)和一被试回路(Cx)。标准回路由内置高稳定度标准电容器与测量线路组成，被试回路由被试品和测量线路组成。测量线路由取样电阻与前置放大器和A/D转换器组成。通过测量电路分别测得标准回路电流与被试回路电流幅值及其相位等，再由单片机运用数字化实时采集方法，通过矢量运算便可得出试品的电容值和介质损耗正切值。

安全措施：

(1)高压保护:试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。

(2)CVT保护:设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。

(3)接地检测:仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。

(4)防误操作:具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。

(5)防"容升":测量大容量试品时会出现电压抬高的"容升"效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定现场交流耐压试验是发现电缆运抵现场安装后存在绝缘缺陷的有效手段。介绍了对220 kV电压等级交联聚乙烯电缆进行现场交流耐压试验时，影响交联电缆绝缘的主要因素。阐述了现场进行交流耐压试验的必要性和有效性。同时对现场交流耐压试验的设备－调频式串联谐振耐压试验装置的原理和参数特性作一介绍。关键词：交联聚乙烯电缆；调频式串联谐振耐压试验装置；现场交流耐压试验随着国民经济的发展以及城网供电电压等级的提高，交联聚乙烯绝缘电力电缆（XLPE）以其合理的工艺和结构，优良的电气性能和安全可靠的运行特点，在国内外获得越来越广泛的使用。尤其在高压输电领域更取得了巨大的进展。与充油电缆相比，交联电缆敷设安装方便，运行维护简单，不存在油的淌流问题。但是，近年来的运行和研究表明，交联聚乙烯电缆的绝缘在运行中易产生树枝化放电，造成绝缘老化破坏，严重地影响了交联聚乙烯绝缘电力电缆的使用寿命。因此，充分认识交联电缆的绝缘特性，及时有效地发现和预防绝缘中存在的某些缺陷，对保障设备乃至系统的安全运行具有十分重要的意义。阐述了影响交联电缆绝缘的主要因素以及电缆的交接试验原理，认为在现场对交联电缆实施交流耐压试验是必要和可行的。
1　影响绝缘的主要因素
　　交联电缆内部存在的绝缘缺陷易产生树枝化放电现象，其结果影响电缆的绝缘性能。树枝化放电据其形态和生成机理不同主要分为电树枝和水树枝。
1．1　电树枝
　　主要是由于绝缘内部放电产生的细微开裂，形成细小的通道，其通道内空，管壁上有放电产生的碳粒痕迹。分枝少而清晰，呈冬天的树枝状。电树枝按产生的机理分为以下几种类型：
　　1）由于机械应力的破坏使交联聚乙烯绝缘产生应变造成气隙和裂纹，引发电树枝放电。机械应力一方面是因为电力电缆生产、敷设运行中不可避免地弯曲、拉伸等外力产生应力，另一方面是由于电缆在运行中电动力对绝缘产生的应力。
　　2）气隙放电造成电树枝的发展。现代的生产工艺尽管可以消除交联电缆生产线中某些宏观的气隙，但仍有1～10μm或少量的20～30μm的气隙形成的微观多孔结构。多孔结构中的放电形式主要以电晕放电为主。通道中的放电所产生的气体压力增加，导致了树枝的扩展和形状的变化。
　　3）场致发射效应导致树枝性放电。在高电场作用下，电极发射的电子由于隧道效应注入绝缘介质，电子在注入过程中获得足够的动能，使电子不断地与介质碰撞引起介质破坏，导致树枝放电。
　　4）缺陷。缺陷主要是导体屏蔽上的节疤和绝缘屏蔽中的毛刺以及绝缘内的杂质