HD6000IV全自动抗干扰介质损耗测试仪

一、产品介损：

HD6000IV全自动抗干扰介质损耗测试仪是一种*测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗，（tgδ）和电容容量（Cx）它淘汰了 QS 高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间（在国内同类产品中速度zui快）等特点。

二、HD6000IV全自动抗干扰介质损耗测试仪主要技术指标：

1、环境温度：0 ～ 40℃（液晶屏应避免长时日照）        
2、相对湿度：30% ～ 70%
3、供电电源：电压：220V±10%、频率：50±1Hz
4、外形尺寸：长×宽×高   500mm×300mm×400mm
5、重量：    约18Kg          
6、输出功率：0.6KVA
7、显示分辩率：3位、4位（内部全是6位）
8、测量范围及输出电压选择：（tgδ）：±0.00～±999%
试品电容容量（Cx）和加载电压：
2.5KV档:≤300nF（300000pF）            3KV档:≤200nF（200000pF）
5KV档:≤76nF（76000pF）                7.5KV档:≤34nF（34000pF）
10KV档:≤20nF（20000pF）
9、基本测量误差：
介质损耗（tgδ）：1%±7个字（加载电流20uA～500mA）
介质损耗（tgδ）：2%±9个字（加载电流5uA～20uA）
电容容量（Cx）：1.5%±1.5pF

三、仪器结构：

1  测量电路:傅立叶变换、复数运算等全部计算和量程切换、变频电源控制等。

2  控制面板:打印机、键盘、显示和通讯中转。

3  变频电源:采用SPWM开关电路产生大功率正弦波稳压输出。

4  升压变压器:将变频电源输出升压到测量电压，大无功输出2KVA/1分钟。

5  标准电容器:内Cn，测量基准。

Cn电流检测:用于检测内标准电容器电流，10μA~1A。输入电阻<2Ω。

Cx正接线电流检测:只用于正接线测量，10μA~1A。输入电阻<2Ω。

Cx反接线电流检测:只用于反接线测量，10μA~1A。输入电阻<2Ω。

6  反接线数字隔离通讯:采用精密MPPM数字调制解调器，将反接线电流信号。

四、安全措施：

1、高压保护:试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。

2、CVT保护:设定自激电压的过流点，一旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。

3、接地检测:仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。

4、防误操作:具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。

5、防"容升":测量大容量试品时会出现电压抬高的"容升"效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。

分级绝缘变压器试验电压应按被试绕组电压等级的标准，但不能超过中性点绝缘的耐压水平。

高压引线应使用屏蔽线以避免引线泄漏电流对结果的影响，高压引线不应产生电晕。

微安表应在高压端测量。

负极性直流电压下对绝缘的考核更严格，应采用负极性。

由于出厂试验一般不进行直流泄漏测量，直流泄漏电流值应符合有关标准规定，并为以后预试比较判断留存依据。

如果泄漏电流异常，可采用干燥或加屏蔽等方法加以消除。

绕组连同套管的tgδ

测试方法

测量时根据试品的接地状况选择正接线或反接线。在有干扰时应设法排除以保证测量结果的可靠性。试验中被测绕组短接，各非被测绕组短路接地。

试验前应将变压器套管外绝缘清扫干净。试验原理接线图（参照各介质损耗测试仪试验接线）。

试验步骤测量并记录顶层油温及环境温度和湿度。

按照仪器接线图连接试验线路，应注意测试高压线的对地绝缘问题。按照各介质损耗测试仪操作说明进行试验。

试验结果判断依据（或方法）不同温度下的tgδ值一般可用公式tgδ₂= tgδ₁×1.3^(t2-t1)/10换算（式中tgδ₁、tgδ₂分别为在温度t1、t2下的tgδ值），20℃时tgδ不大于下列数值：

500 kV                   0.6％

110~220 Kv               0.8％

35 kV                    1.5％

交接时应测量变压器绕组的tgδ，并作为该设备原始记录，以后试验应与原始值比较，应无明显变化（一般不大于30%）。

试验电压如下：绕组电压10 kV及以上     10 kV绕组电压10 kV以下       U_n

绕组tgδ与原始值比较变大或变小都可能是缺陷的反映，同一变压器各绕组的tgδ应基本一致。注意事