比表面和孔隙度是确定材料质量和用途的两个重要物理性质，需要严格控制才能实现材料的特殊功能。即使对于相同粒度的粉体材料，也会由于材料内部颗粒比表面和孔隙度的差异，极大的影响材料的性能特点。化学吸附分析技术可以提供很多必要的信息（如金属分散度、活性金属表面积、活性颗粒尺寸和催化材料表面活性），以评价正在开发和生产的催化材料。粒度与稳定性是决定胶体性质的两个参数，胶体的稳定性又与Zeta电位密切相关，在研究和生产过程中，我们需要测定Zeta电位来确定胶体的分散情况从而确定产品的性能。
　　
　　作为材料表征公司，我们一直致力于研发材料表征的方法与技术，为广大用户提供更、更广泛应用的测试技术。为了和大家分享我们的研究成果，美国麦克仪器公司准备在12月4日在大连理工大学举办题为“粉体与纳米颗粒表面表征技术”的技术讲座，我们诚邀您前来共同探讨、交流本行业的发展趋势。
　　
　　研讨会时间：12月4日
　　
　　地点：大连理工大学化工实验楼C117室
　　
　　地址：辽宁省大连市甘井子区凌工路2号
　　
　　主讲人：麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司总许人良博士、应用部钟华博士
　　
　　会务：郭锐
　　
　　：-807
　　
　　技术讲座基本内容：
　　
　　1）纳米粒度测量与Zeta电位表征
　　
　　2）颗粒及粉末的气体吸附表征技术：
　　
　　气体物理吸附和化学吸附理论
　　
　　物理吸附分析条件及数据的处理：
　　
　　如何确定合适的分析条件，
　　
　　如何对数据进行处理
　　
　　许人良博士简介：
　　
　　许人良博士现任麦克默瑞提克（上海）仪器有限公司总。从事颗粒特性研究和检测技术30多年，是该领域资深专家。他于1987年和1988年在美国theStateUniversityofNewYorkatStonyBrook获得硕士和博士学位。2002年获得美国NovaSoutheasternUniversity的MBA学位。
　　
　　他发表了基础理论研究和应用领域的科技文章100余篇；获得2项美国；研究成果在科学检索引用超过1500多次；在美国各大学和世界各地进行过学术讲座100多次；并著有颗粒表征中的著作《ParticleCharacterization:LightScatteringMethods》。现在担任5个专业期刊（Macromolecules,Langmuir,J.Coll.Inter.Sci.，等期刊）的评委；ISO,ASTM,IABofPERC的委员会成员；多项标准的起草者；被列为美国和世界名人榜。许人良博士经常活跃在中国国内学术领域，在多所大学进行科技讲座。现任上海华东理工大学名誉教授，上海师范大学名誉教授，沈阳科学技术学会特邀外国专家。他是美国标准化委员会专家组组长、粉体检测与控制联合会理事、中国颗粒学会颗粒测试专业委员会理事、美国ASTM颗粒表征分委成员、美国化学学会（ACS）会员、美国物理学会（APS）会员、美国化学工程师学会（AIChE）会员、美国检测和材料学会（ASTM）会员。
　　
　　他曾获得的荣誉和奖励有：美国荣誉协会SigmaBetaDelta奖；ACertificateofAppreciationbyMayorofMetropolitanDadeCounty,FL；ThePostdoctoralFellowshipawardedbyNationalScienceEngineeringResearchCouncilofCanada；ACertificatefortheSherwin-WilliamsAwardbyAmericanChemicalSociety；TheWorldBankFellowshipbytheUnitedNation等。