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爱德万 R3477 信号分析仪

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更新时间:2020-08-08 23:36:33浏览次数:140

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产品简介

应用领域 电子
爱德万 R3477 信号分析仪
新发布的R3477 采用Advantest知识产权的输入电路装置,在RF失真的测试中,具有比其他测量仪器高10000倍的90dB (800MHz带宽)的动态范围,大于+6dBm(200MHz – 3.3GHz,前置放大器OFF)的压缩点,和大于+21dBm(1GHz – 2GHz)的三阶截止点(TOI)。这一台具有9kHz – 13.5GHz的宽频率范围的 测量仪

详细介绍

爱德万 R3477 信号分析仪

新发布的R3477 采用Advantest知识产权的输入电路装置,在RF失真的测试中,具有比其他测量仪器高10000倍的90dB (800MHz带宽)的动态范围,大于+6dBm(200MHz – 3.3GHz,前置放大器OFF)的压缩点,和大于+21dBm(1GHz – 2GHz)的三阶截止点(TOI)。这一台具有9kHz – 13.5GHz的宽频率范围的 测量仪器不需要外部滤波器,可同时测试诸如3G和3.5G这样的宽带网络所用频率的信号和产生的杂散。无需频繁拆换和校准滤波器,提高了基站的设置和维护时的工作效率。

 爱德万 R3477 信号分析仪主要特点


  ● 宽频率覆盖范围
  ● 大200MHz分析带宽
  ● 优良的测试接收性能
  ● 全面的频谱分析能力

  ● 瞬态分析及信号回放
  ● 丰富的功能选件
  ● 灵活的模拟和数字信号输出接口
  ● 便捷的操作特性

宽频率覆盖范围

  ● 宽至50GHz的同轴频率覆盖范围

  ● 8种可选的频段配置,具备更好的经济性

  ● 可配置对应主机频段的宽频带前置放大器

      ● 具有到325GHz的外部频率扩展能力(外部频率扩展选件)

大200MHz分析带宽

● 提供10MHz(标配)、40MHz、200MHz等3种分析带宽配置方案

● 带宽可灵活选择,从10Hz至200MHz共40余档

● 根据带宽选择,无缝捕获时间可从1秒直至数小时

优良的测试接收性能

● 1GHz测量灵敏度-153dBm/Hz,配置前放后典型值为-167dBm/Hz

● 50GHz测量灵敏度-133dBm/Hz,配置前放后典型值为-151dBm/Hz

   ● 全数字中频设计,优异的刻度保真度和中频误差

 全面的频谱分析能力

   ● 支持扫频和FFT两种扫描类型

   ● 零频宽快速扫描,快扫描时间1us

   ● 的频率计数,计数分辨率可达0.001Hz

   ● 扫描点数在101~30001之间任意可选

   ● 可配置6条轨迹,具有丰富的标记操作功能

   ● 6种检波方式,3种平均类型

● 支持时间门测量

● 具有占用带宽、信道功率、邻道功率测试功能

● 具有功率统计、突发功率、谐波失真、三阶交调、杂散发射等测试功能

瞬态分析及信号回放分析

   ● 频域时域关联测试便于理解并深入分析瞬态信号事件

   ● 瀑布图显示,分析信号频谱随时间变化的宏观规律

   ● 同时分析信号频率/幅度/相位随时间的变化,助力功率控制、频率锁定过程的测试

● 支持长达250M样点(64位精度)的无缝捕获数据存储

● 支持CSV、DAT等多种信号文件存储格式

● 支持信号文件的事后回放分析

丰富的功能选件

   ● 相位噪声测试功能

● 模拟解调分析功能

● 瞬态分析功能

   ● 脉冲信号分析功能

   ● 音频分析功能

● 覆盖到325GHz的外混频测试

 灵活的模拟和数字信号输出接口

● 275MHz~475MHz高中频输出,1Hz频率步进

● 10MHz~160MHz中频输出,1Hz频率步进,4档自动增益控制电平

● 数字重构信号输出,提供任意中频、AM/FM解调和IQ解调信号输出

● 数字信号输出,1X或4X光纤输出通道,记录宽带IQ数据的实时数据接口

● 外置式数据记录仪,支持SSD和HDD两种介质类型

 便捷的操作特性

● 支持中英文双语

● 人性化的自动调谐和自动刻度功能

● 支持一键式快捷测量

● 10.1吋宽屏液晶显示器,1280*800的屏幕分辨率,更清晰地展现测量结果

● 支持USB、LAN、GPIB、监视器等多种辅助输出接口,方便用户操作

 典型应用

● 电子系统性能综合评估:作为多用途多功能的通用信号及频谱分析仪表,AV4051可广泛应用于雷达、通信等电子系统综合性能评估中,为宽带信号的测试提供高灵敏度、大动态范围、高精度、高效率的解决方案。

● 发射机和接收机测试和诊断:应用AV4051提供的频谱分析、谱功率测试、瞬态分析、相噪测试等丰富的功能,为发射机和接收机测试提供全面的诊断服务。

● 直接用于复杂测试诊断系统的集成,为系统提供信号输出、数据输出和结果分析。

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