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嵌入式膜厚检测仪

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参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号 FE-3
  • 品牌 OTSUKA/日本大冢
  • 厂商性质 生产商
  • 所在地 苏州市
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更新时间:2020-06-12 16:14:31浏览次数:801

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产品简介

产地类别 进口 价格区间 20万-50万
应用领域 医疗卫生,化工,电子,印刷包装,电气
嵌入式膜厚检测仪可高精度测量具有波长依存性的多层膜!通过光纤灵活构筑测量系统。支持远程测量、多点测量。

详细介绍

嵌入式膜厚检测仪 FE-3

嵌入式膜厚检测仪可高精度测量具有波长依存性的多层膜!

 

产品信息

特 点

•采用分光干涉法

•搭载高精度FFT膜厚解析系统

•使用光学光纤,可灵活构筑测量系统

•可嵌入至各种制造设备。

•实时测量膜厚

•可对应远程操作、多点测量

•采用寿命长、安全性高的白色LED光源

测量项目

·多层膜厚解析

用 途

•光学薄膜(超硬涂层、AR薄膜、ITO等)

•FPD相关(光刻胶、SOI、SiO2等)

设备构成

单点型

•半导体晶圆的面内分布测量

•玻璃基板的面内分布测量

多点型

•实时测量

•流向品质管理

•真空室适用

导线型

•实时测量

•宽度方向品质管理

测量案例

超硬涂层的膜厚解析

 

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