对于半导体QC来说，FT-IR光谱作为一种简单而有效的工具从众多手段中脱颖而出。布鲁克生产的FT-IR谱仪可提供各种产品组合，用以帮助在开发和过程控制方面进行创新。

讲堂主题：布鲁克FTIR在硅产品质控领域的系列方案

开播时间：7月28日（周三）15:30准时开播

演讲人：布鲁克光谱德国应用专家 吴丹博士

在此次举行的免费网络研讨会中，我们将向您介绍布鲁克使用FT-IR光谱进行半导体质量控制的高灵敏度解决方案，敬请关注！

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