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| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 地矿,能源,交通,航天,汽车 |
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IRMS8599B通过将光线投射到要测量的薄膜上并测量来自前后反射光的干涉来测量薄膜厚度。膜厚使用以下原理来测量：随着膜厚的增加，在反射光谱中出现的波（干扰波）的数量增加。无需校准曲线即可进行高精度测量。
连续光谱法可进行FFT分析和CF（曲线拟合）分析
同时测量多达4层
工作温度0至50°C，IP65（防尘和防滴结构）
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日本CHINO千野 光学干涉型膜厚计IRMS8599B
日本CHINO千野 光学干涉型膜厚计IRMS8599B
