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致茂Chroma 7503三维光学轮廓仪使用白光干涉量测技术，非破坏性、快速表面形貌量测与分析模组化设计可依量测需求及预算考虑进行各部件选配提供多种表面参数量测...

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致茂Chroma 7925TO-CAN 封装外观检测系统可检测TO-CAN 封装金属外盖与透镜之刮伤、破裂、异物及胶合不良等缺陷具备自动对焦功能，可克服载盘制造...

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致茂Chroma 58620 激光半导体特性测试机全自动化检测边射型激光半导体芯片高精密及高容量载具设计自动光纤耦合测试对位设计（Auto-alignment）...

致茂Chroma 7940 晶圆检测系统可同时检测正反两面晶圆大可检测6吋扩膜晶圆（检测区域达8吋范围 ）可因应不同产业的晶粒更换或新增检测项目上片后晶圆自动对...

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