膜厚测试仪韩国XRF-2020L型

膜厚测试仪韩国XRF-2020L型

X荧光射线法

X射线射到镀层表面，产生X射线荧光

根据荧光谱线元素能量位置以及其强度确定镀层的组成以及厚度。用X荧光光谱仪测试金属镀层精确，测试范围广，并且细微的面积以及超薄的镀层都可以测试。

综上所述，对于金属电镀镀层的膜厚测试，X射线荧光是快速无损检测电镀膜厚的*。

先锋仪器XRF-2020电镀膜厚测试仪原理

X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态

此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。

荧光X射线镀层厚度测量仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度

来进行镀层厚度的测量及分析.

韩国MicroP XRF-2020膜厚仪

韩国MicroP XRF-2020膜厚仪

功能应用：

检测电子电镀,五金电镀,PCB板，LED支架半导体连接器等电镀层厚度。

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料

膜厚测试仪韩国XRF-2020L型