膜厚测试仪标准片校正片X-RAY

膜厚测试仪标准片校正片X-RAY

标准片厂牌：韩国Micropioner

标准片应用X-RAY镀层测厚仪,不同品牌镀层测厚仪标准片通用

用于校正镀层测厚仪标准及添加测量应用程序

X射线测厚仪校正片

铜/镍/锌/铬/银/金/钯/锡/铑/铂/钯/锌镍合金等

各种厚度范围均可订制，附带标准证书

X射线测厚仪在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。

是膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品

根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。

以此标准曲线来测量镀层样品，以得到镀层厚度或组成比率。

对于PCB、电子元器件，端子连接器，五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 

MicropioneerXRF-2020镀层测厚仪三款机型如下图

检测电子电镀层厚仪，测量镀金,镀银，镀镍,镀锌,镀锡,镀锌镍合金等

可测单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层

金标准片，银标准片，镍标准片，锡标准片，铜标准片，锌标准片如下图

钯标准片，铑标准片，铂标准片如下图

膜厚测试仪标准片校正片X-RAY

XRF-2020镀层测厚仪标准片通用各品牌X-RAY镀层测厚仪

铜，镍，铬，锌，金，银，锡，锌镍，钯，铂，铑各种厚度

规格均可订制，校准片均附带证书。