韩国先锋镀层测厚仪

X射线测镀层测厚仪原理

测量原理：

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

韩国先锋镀层测厚仪

XRF-2020

可测单双镀层及合金镀层

适应于各类五金电镀,电子连接器端子半导体等行业。

可测金,镍,铜,锌,锡,银,锌镍合金等镀层。

应用广泛，适应电镀生产企业，产品来料检测等。

仪器全自动台面

多点自动测量,自动雷射对焦。

X射线测镀层测厚仪

韩国先锋镀层测厚仪

XRF-2020

测量电镀层厚度

检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

测量镀金,镀锌,镀钯,镀铬,镀铜,镀银,镀锡,镀镍,镀锌镍合金等