电镀层测厚仪韩国XRF-2020X-RAY膜厚仪

电镀层测厚仪韩国XRF-2020X-RAY膜厚仪

检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等?合金镀层：

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

电镀层测厚仪韩国XRF-2020X-RAY膜厚仪

规格如上图所示

原产地：韩国

品牌：Micropioneer微先锋

型号：XRF-2020

型号规格

XRF-2020L型：测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

X-RAY膜厚仪韩国先锋XRF-2020

通过CCD镜头观察快速无损测试镀层镀厚

如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...

可测单层,双层,多层,合金镀层

XRF-2020镀层测厚仪三款机型均为全自动台面，自动雷射对焦。