测厚仪标准片膜厚校准片XRF-2020无损测试仪

测厚仪标准片膜厚校准片XRF-2020无损测试仪

标准片可应用各种X射线测厚仪品牌

用于校正测厚仪标准及添加应用程序

韩国XRF-2020测厚仪标准片

铜/镍/锌/铬/银/金/钯/锡/铑/铂/钯/锌镍合金等

各种厚度范围均可订制，附带标准证书

镀层测厚仪标准片

X射线测厚仪在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。

是膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品

根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。

以此标准曲线来测量镀层样品，以得到镀层厚度或组成比率。

对于PCB、电子元器件，端子连接器，五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 

镀层测厚仪标准片实物如图所示：

测厚仪标准片膜厚校准片XRF-2020无损测试仪

XRF-2000测厚仪标准片

铜，镍，铬，锌，金，银，锡，锌镍，钯，铂，铑各种厚度及规格均可订制，校准片均附带证书