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详细介绍
铜上镀锡X射线无损测厚仪
韩国微先锋XRF-2020
标牌：Micro Pioneer 微先锋
货号：XRF-2020H，XRF-2020L,XRF-PCB三款
X-RAY镀层测厚仪功能及应用
应用于电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器半导体等行业
可测试各类电镀层，金,银,镍,铜,锡,锌,铬,锌镍合金等
XRF-2020L型：测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg
（1）单镀层：Ag/xx |
| （2）合金镀层：Sn-Pb/xx |
| （3）双镀层：Au/Ni/xx |
Ag |
| Sn-Pb |
| Au |
底材 |
| 底材 |
| Ni |
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| 底材 |
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（4）合金镀层：Sn-Bi/xx |
| （5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx |
| （6）化学镀层：Ni-P/xx |
Sn-Bi |
| Au |
| Ni-P |
底材 |
| Pd |
| 底材 |
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| Ni |
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| 底材 |
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（1）单镀层：Ag/xx |
| （2）合金镀层：Sn-Pb/xx |
| （3）双镀层：Au/Ni/xx |
Ag |
| Sn-Pb |
| Au |
底材 |
| 底材 |
| Ni |
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| 底材 |
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（4）合金镀层：Sn-Bi/xx |
| （5）三镀层：Au/Pd/Ni/xx |
| （6）化学镀层：Ni-P/xx |
Sn-Bi |
| Au |
| Ni-P |
底材 |
| Pd |
| 底材 |
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| Ni |
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| 底材 |
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X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析
X-RAY镀层测厚仪功能及应用
XRF-2020韩国先锋测厚仪
功能：检测电镀层厚度
测试各类电镀层，金,银,镍,铜,锡,锌,铬,锌镍合金等
应用实例图示
铜上镀锡X射线无损测厚仪
铜上镀锡测量范围：0.5-60um
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