孔径测量

孔径测量，可以用于检定ASME X，XX，XXX级精度的环规，相当于可以检定国内二等环规。 通过一整套完善的量值传递机构可以快速的找到环规的直径拐点，这其中其大作用的是两只消除了摩擦力影响的位移传感器。

孔径测量

这是一台在很多校准实验室采用的标定环规的计量设备，由于其*的设计和可靠的表现至今没有被其他产品代替。可以用于检定ASME X，XX，XXX级精度的环规，相当于可以检定国内二等环规。 通过一整套完善的量值传递机构可以快速的找到环规的直径拐点，这其中其大作用的是两只消除了摩擦力影响的位移传感器。孔径测量这是一台可以测量百万分之内外尺寸的仪器，同时可以用来测量一些高精度的盘类零件。

孔径测量技术描述

• 测量范围: 内尺寸: 300mm，外尺寸：279mm

• 重复精度; ±0.025µm

• 测头量程: ±40µm

• 示值误差：0.25%量程

• 测头材料：金刚石

• 重量:306kg

• 仪器高度：1422mm

• 工作台尺寸：279mm x 406mm

• 占地尺寸：406mm x 508mm

• 数字输出接口RS232C

• 电源：230V±10%   50-60Hz