高精度薄膜测厚仪 返回列表页

CHY-CA高精度薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

高精度薄膜测厚仪 技术特征

• 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制

• 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差

• 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定

• 实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断

• 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据*性

• 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果

• 系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看

• 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据

  
  

测试标准 该设备满足多项国家和标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

技术指标

测试范围 ：0～2 mm（常规） 0～6 mm；12 mm（可选）

分辨率 ：0.1 μm

测量速度：3秒-30秒/点（可调）

测量头直径：6mm(标配)  住：其他测量头直径可定制

测量基准台直径：φ30mm

测试压力： 17.5±1 KPa（标配）；50±1 KPa（可选）注：非标可定制  

接触面积 ：50 mm2（标配）；200 mm2；2500mm2（可选）注：非标可定制

电源： AC 220V 50Hz

外形尺寸： 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)

净重： 32 kg

产品配置：主机、标准量块一件、专业软件、通信电缆、测量头