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日本日立EA1000AIII/EA1280台式光谱仪

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更新时间:2024-10-25 10:22:13浏览次数:581

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产品简介

应用领域 石油,地矿,电子/电池,电气,综合    
日本日立EA1000AIII/EA1280台式光谱仪是日立专为RoHS有害物质限制设计的XRF分析仪,15年来一直受到信任,为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量,您可以确保能够满足环境法规的要求。

详细介绍

  日本日立EA1000AIII/EA1280台式光谱仪介绍

日本日立EA1000AIII/EA1280台式光谱仪是日立专为RoHS有害物质限制设计的XRF分析仪,15年来一直受到信任,为需要遵守本指令的企业提供一致的结果。通过对有害物质的简单快速的测量,您可以确保能够满足环境法规的要求。

产品特点:

  • 操作方便

  • 可自动采样

  • 灵活校准以适应新的RoHS标准

  • 自动突出显示您正在分析的内容以获得可浏览的结果

  • 快速测量

  • 大样品舱满足各种样品

  • 视听测量指示器

  • 添加镀层和元素分析的选项

EA1280*
  • 主要功能:适用于RoHS筛查和通用分析的高性能多用途XRF光谱仪

  • 应用领域:・快速RoHS/ELV合规性筛查・无卤素合规性筛查・薄膜分析・快速材料识别・多用途材料分析

  • RoHS拓展元素:Sb、Sn、Cl(*较以往机型检测性能增强)

  • 测量范围:13Al~ 92U

  • 测量大气:空气

  • 样品测量:单一位置或12位置转盘

  • 测量光斑尺寸:5 mm Ø准直器(标准);1和3 mm Ø(可选;程控)

  • 常规RoHS筛查时间:塑料<35秒,黄铜<170秒

  • 样品观察:彩色CCD相机

  • 检测器:高性能SDD

  • 样品舱尺寸:304(宽)×304(深)×110(高)mm

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EA1000AIII
  • 主要功能:适用于RoHS筛查和通用分析的入门级XRF光谱仪

  • 应用领域:・RoHS/ELV合规性筛查・薄膜分析・材料识别・多用途材料分析

  • RoHS拓展元素:Sb、Sn、Cl

  • 测量范围:13Al~ 92U

  • 测量大气:空气

  • 样品测量:单一位置或12位置转盘

  • 测量光斑尺寸:1、3和5 mm Ø(标准;程控)

  • 常规RoHS筛查时间:塑料<70秒,黄铜<340秒

  • 样品观察:彩色CCD相机

  • 检测器:Si - PIN二极管

  • 样品舱尺寸:370(宽)×320(深)×120(高)mm

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