抗干扰介质损耗测试仪技术指标

抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容器容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗，（tgδ）和电容器容量（Cx）它淘汰了 QS 高压电桥。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间（在国内同类产品中速度快）体积小、重量轻等特点。

抗干扰介质损耗测试仪技术指标 ：
1、环境：-5℃～40℃（液晶屏应避免长时间日照） 
2、相对湿度：30%～70% 
3、供电电源：电压：220V±10%，频率50±1Hz 
4、外形尺寸：长*宽*高=500mm*300mm*400mm 
5、重量：28kg 
6、输出功率：1.5KVA 
7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位） 
8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法
9、测量范围：内接试验电压：≤60000PF（10KV电压大于30000PF）
外接试验电压：由外接试验变压器输出功率而定 
10、基本测量误差： 
介质损耗（tgδ）：1%±0.04% 
电容容量（Cx）：1%±1pF

抗干扰介质损耗测试仪电容型套管：
测量在三相变压器的任一只电容型套管的tgδ和电容时，相同电压等级的三相绕组
中性点（如中性点有套管引出）必须短接加压，将非测量的其他绕组短接地，否则造成
较大的误差。采用正接线方式，将仪器IX线之CX夹子夹到小套管引线上，UH线将高压加到导电杆上，试验电压10KV。
具有抽压和测量端子（小套管引出线）引出的电容型套管，tgδ和电容的测量，可分别在导电杆和各端子之间进行：
（1）测量导电杆对测量端子的tgδ和电容时，抽压端子悬空。
（2）测量导电杆对抽压端子的tgδ和电容时，测量端子悬空。
（3）测量抽压端子对测量端子的tgδ和电容时，导电杆悬空，此时试验电压不应
超过该端子的正常工作电压。

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