膜厚标准片 返回列表页

　　膜厚标准片是一种用于校准或检验膜厚仪测量精度的标准样品，通常由一片金属或塑料制成，上面具有不同厚度的涂层。
 

　　Calmetrics是美国原厂制作标准片的专业认证公司，其生产的标准片质量精良，精度高、稳定性好。测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。标准片分单层标准片、双层标准片、多层标准片，其中单层标准片又可分为单元素标准片、单元素薄片镀在底材上、纯元素底材标准片、合金薄片、合金镀在底材上等，各种规格搭配，可根据客户个性化需要定制。所有标准片都附有NIST认证证书我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片，并附有标准片厚度值证书。
 

　　膜厚标准片-银Ag/xx单镀层标样的其他一些常用规格厚度：
 

主要用途包括以下几个方面：
 

　　1、校准膜厚仪的测量精度：能够提供一组已知的薄膜厚度值，通过与膜厚仪测量结果的比对，可以校准膜厚仪的测量精度。
 

　　2、检验薄膜厚度的一致性：膜厚标准片可用于检验薄膜加工过程中不同批次或不同工艺条件下的薄膜厚度的一致性。通过测量标准片与实际薄膜的厚度差异，可以评估加工过程的稳定性和可重复性。
 

　　3、评估薄膜加工工艺的性能：还可以用于评估不同薄膜加工工艺条件下的薄膜性能表现。通过测量不同工艺条件下的标准片薄膜厚度，可以评估加工工艺对薄膜性能的影响，从而指导工艺的优化和改进。
 

　　4、研究薄膜加工过程的物理化学机制：也可以作为研究薄膜加工过程物理化学机制的一种手段，通过对标准片薄膜厚度变化规律的研究，可以揭示薄膜形成过程中的物理化学变化过程。
 

　　5、在制造过程中，涂层或电镀必须具有一定的厚度以确保其具有所需的性能。如果涂层或电镀太薄，可能会导致产品的质量不足，而太厚则浪费了材料和金钱。因此，使用膜厚标准片可以帮助检测涂层或电镀的厚度是否符合标准，并确保产品的质量。
 

　　6、在膜厚仪测试过程中，膜厚标准片的使用还可以帮助确认膜厚仪的工作状态，防止在膜厚仪故障状态下无法及时确认。它也可以用于X射线测厚仪在测金属镀层厚度时的标准化校准及建立测量分析档案。
 

　　Calmetrics镀层标准片适用于各种品牌的X射线测厚仪(涂镀层厚度测试仪)应用：适用于Fischer(菲希尔)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELECFINE(日本电测)、Thermo(热电)、Veeco、MicroPioneer、Seiko等各厂牌X-ray测厚仪(膜厚计)。