产地类别 |
进口 |
价格区间 |
1千-5千 |
应用领域 |
环保,化工,能源,电子/电池,汽车及零部件 |
HXNi/xx元素单镀层膜厚标准片(镀层标准片)是用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测量金属镀层厚度时进行标准化校准及建立测试档案的重要工具。
HXNi/xx元素单镀层膜厚标准片,又称测厚仪标准片或膜厚仪校准片,是一种具有已知镀层厚度的标准样品。
用途:主要用于X射线测厚仪的校准和测试标准化,以确保测量结果的准确性和可靠性。它适用于PCB(印刷电路板)、五金电镀、半导体等行业中对镀层厚度的精确测量。
适用于费希尔Fischer、韩国ISP、日立Hitachi(包括:牛津仪器Oxford(CMI)、精工Seiko)热电Thermo、Veeco、微先锋Micro Pioneer、岛津、电测、纳优、天瑞、华唯等各厂牌的测厚仪。
美国Calmetrics公司专业生产X射线荧光镀层薄膜标准件及元素含量标准件,提供对标准件的校准服务,公司通过ISO/IEC 17025认证。公司提供所有证书符合NIST(National Institute of Standards and Technology美国国家标准与技术研究院)标准或ANSI(American National Standards Institute美国国家标准学会)标准。其生产的标准片质量精良,精度高、稳定性好。
Ni/xx元素单镀层膜厚标准片一般分为单镀层片,双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。如:单镀层:Au/xx,双镀层:Au/Ni/xx,三镀层:Au/Pd/Ni/xx,合金镀层:Sn-Pb/xx,合金镀层:Ni-P/xx。