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| 产地类别 | 进口 |
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Mirion分段同轴HPGe探测器采用自80年代以来在平面探测器上可用的分割技术（见Gutknecht等人NIM A 288（1990）13-18），以提供来自每个检测器单元（段）的高质量信息信号，同时利用总检测量（通常同轴检测器可用）。
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用于伽马跟踪,极化测量,多普勒效应校正,β衰减抑制 在不同N型晶体几何图形上用光刻(多36段)对外部接触进行纵向和横向分割 段间无死区或吸收材料 单片探测器 无可测串扰效应 增加多检测器系统的粒度 相互作用和伽马射线的局域化 内核信号与分段接触信号重合的跟踪能力
瑞轩电子科技（上海）有限公司-------*仪器仪表供应商
是全国仪器仪表行业“产品研发、销售、技术培训、设备维修”为一体供应商
公司经营品牌：
GE druck, GE Panametrics,GE Bently,Wika,HBM,Tektronix,BEAMEX,SIKA,E+E，美国华瑞RAE,梅思安MSA，德尔格Draeger，德国IKA，美国奥豪斯，美国哈希hach,安捷伦等品牌，派克Parker,阿托Atos,力士乐Rexroth,哈威Hawe，德国KK,英国Time Electronics,美国斯坦福,英国密其，德国LR-Cal,德国Schleich,澳大利TPS,德国卡尔德意志等进口品牌
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