Y-HD-225L-IC寿命老化测试试验箱芯片高低温湿热测试箱_高低温湿热测试箱-宇航志达试验装备（东莞市）有限公司

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宇航志达试验装备（东莞市）有限公司

主营产品： 两箱式高低温冲击箱,高低温实验试验箱,恒定高低温试验箱

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Y-HD-225LIC寿命老化测试试验箱芯片高低温湿热测试箱

参考价	￥ 32900
订货量	1台

具体成交价以合同协议为准

型号 Y-HD-225L
品牌 宇航志达
厂商性质 生产商
所在地 东莞市

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更新时间：2025-02-14 09:30:11浏览次数：1303

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【简单介绍】

产地类别	国产	价格区间	2万-5万
应用领域	食品/农产品,化工,能源,建材/家具,电子/电池	温度范围	-20+150

IC寿命老化测试试验箱芯片高低温湿热测试箱适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温交变环境下贮存、运输、使用时的适应性试验，是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备，特别适用于光纤、LCD、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温循环试验。

【详细说明】

IC寿命老化测试试验箱芯片高低温湿热测试箱用于针对于电工、电子产品，以及其原器件，及其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温交变环境下贮存、运输、使用时的适应性试验，是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备，特别适用于光纤、LCD、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温循环试验。

　　IC寿命老化测试试验箱芯片高低温湿热测试箱主要技术指标：

　　1、温度范围 -20℃、-40℃、-60℃、-70℃、～ 100℃（ 150℃）

　　2、湿度范围 30～98%RH（可按客户要求定制）

　　3、温度均匀度 ≤±2℃

　　4、温度波动度 ≤±0.5℃

　　5、湿度偏差 2/-3%RH

　　6、升温速率 2～3℃/min(可按客户要求定做)

　　7、降温速率 0.7～1℃/min(可按客户要求定做)

　　8、使用环境温度常温25℃,通风良好

　　9、电源电压 AC220V/380V/50HZ