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DantecQ-810真空罩剪切系统 DantecQ-810真空罩剪切系统 DantecQ-810真空罩剪切系统
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三维高速图像相关系统Q-450允许全场,非接触和三维动态测量的形状,位移和应变的元件和结构几乎任何材料。基于数字.允许全场,。基于数字图像相关技术,设计了Q 450系统,用于全场振动分析和高速瞬态事件。例如:弹道试验,断裂场光学测量和高时间分辨率.动态范围从静态到超过100,000赫兹,具有测量了Q速图术,设计了Q 450系统,用于全场振动分析和高速瞬态事件。例如:弹道试验,断裂场光学测量和高时间分辨率.动态范围从静态到超过100,000赫兹,具有测量从微米到米范围的位移的能力。分辨率一般在1微米左右,应变为0.01%左右。三维高速图像相关系统Q-450允许全场,非接触和三维动态测量的形状,位移和应变的元件和结构几乎任何材料。基于数字.允许全场,。基于数字图像相关技术,设计了Q 450系统,用于全场振动分析和高速瞬态事件。例如:弹道试验,断裂场光学测量和高时间分辨率.动态范围从静态到超过100,000赫兹,具有测量了Q速图术,设计了Q 450系统,用于全场振动分析和高速瞬态事件。例如:弹道试验,断裂场光学测量和高时间分辨率.动态范围从静态到超过100,000赫兹,具有测量从微米到米范围的位移的能力。分辨率一般在1微米左右,应变为0.01%左右。三维高速图像相关系统Q-450允许全场,非接触和三维动态测量的形状,位移和应变的元件和结构几乎任何材料。基于数字.允许全场,。基于数字图像相关技术,设计了Q 450系统,用于全场振动分析和高速瞬态事件。例如:弹道试验,断裂场光学测量和高时间分辨率.动态范围从静态到超过100,000赫兹,具有测量了Q速图术,设计了Q 450系统,用于全场振动分析和高速瞬态事件。例如:弹道试验,断裂场光学测量和高时间分辨率.动态范围从静态到超过100,000赫兹,具有测量从微米到米范围的位移的能力。分辨率一般在1微米左右,应变为0.01%左右。三维高速图像相关系统Q-450允许全场,非接触和三维动态测量的形状,位移和应变的元件和结构几乎任何材料。基于数字.允许全场,。基于数字图像相关技术,设计了Q 450系统,用于全场振动分析和高速瞬态事件。例如:弹道试验,断裂场光学测量和高时间分辨率.动态范围从静态到超过100,000赫兹,具有测量了Q速图术,设计了Q 450系统,用于全场振动分析和高速瞬态事件。例如:弹道试验,断裂场光学测量和高时间分辨率.动态范围从静态到超过100,000赫兹,具有测量从微米到米范围的位移的能力。分辨率一般在1微米左右,应变为0.01%左右。