XU型国产x射线荧光测厚仪

电镀膜厚仪技术指标

产品名称:x-ray电镀膜厚仪

型号：xu-100

元素分析范围从硫(S)到铀（U）

同时可以分析30种以上元素，五层镀层

分析含量一般为ppm到99.9%

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型

相互独立的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

度适应范围为15℃至30℃

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：30kg

标准配置

高低压电源

X光管

高度传感器

保护传感器

开放式样品腔

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动

双激光定位装置

铅玻璃屏蔽罩

Si-Pin探测器

信号检测电子电路

计算机及喷墨打印机

电镀膜厚仪性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求，φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求，高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自动定位测试高度，定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐，鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点，高分辨率探头使分析结果更加精准，良好的射线屏蔽作用，测试口高度敏感性传感器保护。

应用领域

电镀膜厚仪广泛应用于金属镀层的厚度（镀银、镀金、镀镍、镀锌、镀铜、镀铬、镀钯等）测量，电镀液和镀层含量的测定,端子连接器、气配五金、珠宝首饰、汽车配件、LED、半导体、卫浴洁具、PCB、电子电器、制冷设备、检测机构以及