银层测厚仪配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

测厚仪 银层性能

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：40kg

测厚仪 银层应用

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

1、XAU仪器小测量面积是多少？

答：0.2毫米，在我们的Thick800A上。是目前世界上运用Si-P半导体探测器，而不装加毛孔纤维聚焦管可以测到得小面积，提高了分析精度，降低了仪器成本和销售价格。

2、XAU仪器的测厚范围？

答：各种材料范围不同，金属一般在30微米左右，其中金8微米左右，铝100微米左右。

3、XAU仪器能测量哪些厚度？

答：仪器从钠到铀元素都可探测到，如要测量厚度，还需满足条件：A、与基材和其它层有能探到的不同元素，也可其它层都有，这一层不含有此元素；B、所关注的元素在当层中含量均匀；C、有可对比的标样或者数据。