x光镀层测厚仪技术参数

元素分析范围：S-U

含量分析范围：PPM-99％

电压：220V正负5V

测试平台：三维维样品移动平台

探测器：SDD探测器

仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm

x光镀层测厚仪工作原理

当辐射撞击在比例器后，即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。

使用X-射线荧光原理测厚，将被测物置于仪器中，使待测部位受到X-射线的照射。此时，特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生，而检测系统将其转换为成比例的电信号，且由仪器记录下来，测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。

应用领域

汽车配件

五金工具

线路板

半导体框架

汽车空调设备

端子连接器

卫浴、首饰等。