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硅铝元素分析仪
公司拥有一支综合素质高、专业能力强、工作经验丰富的精英团队。不断的跟踪分析新的市场需求，及时的调整产品结构，开发新的功能。在日新月异的科技发展中，始终走在技术开发前沿，保持技术领域的地位，从而推出更专业、更适合人们热值化验需要的产品。公司的快速发展，得到广大客户的认可。公司秉承“以质量求生存、以信誉求发展、用心服务、客户至上"的宗旨，为用户提供优质的产品和完善的售后保障。
硅铝元素分析仪
商品详细介绍 X荧光硅铝分析仪X荧光硅铝分析仪 性能特点：1 、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。 2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用极为方便。 3、分析时间短，1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。 4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。 5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合环保节能要求。 6、数据存储量大，含量结果、仪器自检数据都可查询，避免了打印耗材。 7、仪器执行GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》。 8、可与配料系统联网，实现自动控制。 X荧光硅铝分析仪 技术指标：1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100% 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08% 3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。 4、分析时间: n*60秒（n为1～5自然数）。 5、使用条件: 供电AC200V～240V；环境温度0～40℃；相对湿度<85%（30℃）。 6、整机功耗:<30W 7、整机尺寸：468mm*368mm*136mm 8、整机重量：13.8kg |
按照国家标准和ISO标准进行煤灰熔融性测定，其测定结果没有差异。从国家煤检中心历年来与国外几十个实验室进行的多次同检结果来看，也证明了这一点。
从定义上看，两个标准在DT和FT的定义上略有不同，但对测定结果没有影响，分析如下：
DT，标准定义锥尖开始圆时的温度，国家标准定义为锥尖开始变圆或弯曲时的温度，即国家标准增加了“锥尖弯曲"的规定。当锥尖弯曲时，从灰锥的另一个角度观察就会看到锥尖“变圆"，即国家标准的规定考察到了灰锥位置和观察的方向的影响，更周到一些。
FT，际准定义为灰展开成高度等于半球温度试块高度三分之一的薄层时的温度，国家标准定义为灰锥展开成高度在1.5mm以下的薄层时的温度，这两者实际上基本无差别。规定灰锥底边长度为7mm，当达到半球温度时，试块的底部长度会增加，一般可增加到8-9mm，也即此时半球高度为4-4.5mm，其三分之一为1.33mm-1.5mm。考虑到人为观测判断的误差，国家标准将高度定义为1.5mm以下。
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