目录:联合光科技(北京)有限公司>>测量仪器>>光学器件性能检测仪器>> 750173 750174平面元件波前测量仪
产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
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应用领域 | 综合 |
全欧光学WaveMaster波前测量仪用于球面透镜,非球面透镜和光学系统的波前测量,集成了准直系统,扩束或缩束系统,高精度样品台,多种光源和WaveSensor波前传感器。此传感器采用夏克-哈特曼传感器原理,用于平面、球面、非球面面型的检测,光学系统像差检测,输出激光光束质量检测,光束动态变化检测,自适应系统波前的探测,并有针对大口径光学和人工晶体波前检测的解决方案。WaveMaster波前测量仪主要用来测量大型双远心镜头的全场波前,还可给出被测样品的面型(PV和RMS),泽尼克系数(Zernike),点扩散函数(PSF),调制传递函数,斯特列尔比,楔角。同时,该产品也可用于人工晶体在空气中或原位中的检测,晶体低阶和高阶的相差,晶体的调制传递函数(MTF),晶体的点扩散函数(PSF),晶体屈光度和像差。软件具有多种模块功能,简单易用,用户可根据需要进行选择。
WaveMaster® PLAN适用于使用夏克哈特曼传感器的波前分析对平面进行质量检查。
产品特点
平面光学元件的综合波前分析
快速简便的测量:手动放置样品,并通过X-Y表进行调整
通过抗振结构实现稳定且与环境无关的测量系统