EM-DR1-IS-5-RTB-28V/V，60004-003现货供应

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旋转编码器会将机械输入转换为电信号，可由计数器、转速计、可编程逻辑控制器和工业 PC 处理。

 编码器轴受力是轴承损坏的主要原因。轴承可能受到径向和轴向的两种负载。通常轴承的负 载来自安装误差及滚轮或传动齿轮。当径向和轴向的负载增加，轴承寿命变短。因此编码器 安装时减少轴承负载和安装误差非常重要。

❖ 编码器轴通过柔性联轴器连接被测轴。联轴器补偿旋转编码器与驱动轴之间的轴向和径向不 对正量（径向和角度不对正量）。这样确保旋转编码器轴承无外力作用和外力不影响使用寿 命。如果编码器轴受力较大，例如摩擦轮、皮带轮或链轮应用中，奥凯特公司建议安装轴承 组件缓冲。

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侵入指异物进入轴承。轴承是精密元器件，任何异物的进入将导致轴承寿命急剧下降。正因

为这个原因，很多编码器采用了密封机构来防止异物侵入。

旋转编码的机械寿命主要由轴承决定。轴承的预期使用寿命取决于轴负载、温度、轴速和异

物。

❖ 前面所讨论的情况一起决定轴承的寿命。我们可以通过减少安装误差产生的轴受力，采用适

当的密封防止异物和避免不必要的高温来提高轴承寿命。

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电子式式"编码器与“真值编码"的编码器比较会有什么问题？

电子式式编码器内部的工作原理是依赖于运动起来读数加上前次记忆数据相比较，获得

的位置信息，这样与“真值编码"器比较，就会有这三部分出错可能性：

首先是运动起来的读数计数累计，这个部分可能会受到各种内部及外部电气环境干扰因素的

影响或器件小概率失效因素的影响而读错，它与值编码不同，值编码由于位置信息

始终存在，即使一次性小概率读数失效，并不影响下次的读数性，而通过读数计数的失

效，如果您对该产品或类似的解决方案感兴趣，请与BEI中国销售供应商派仪（上海）测量技术有限公司联系。可以影响到下一次的读数累计，这种错误无法区隔判断，并在时间上和各个位置上的信

息输出延续下去；而在断电以后的读数，是依赖于电池、电容供电，或威根应极小的发

电能量存储供电，因所供电能有限，其抗干扰性更差，并读数频次低，当快速旋转编码器或

外部有很大的干扰影响下，很有可能来不及计数累加或受干扰而出现读数错误，并累加延续。

其二，在于累加计数的记忆体，这种记忆体因电能有限，或因记忆能量型元器件的问题，例

如电池的失电后、电容及威根应存储的的容量有限性、存储数据的电容的被干扰耦合数

据失真，存储数据再次采集的数据失真、电池的低温失效，电池的高温爆炸、记忆能量体和

数据记忆体的寿命，等等各种因素都会影响到其记忆数据及再次采集是否可能失真失效。

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什么是威根德效应编码器？

有一些电子多圈编码器，其多圈计圈数是用威根德效应的原理。

在上世纪 60 年代,John·Wiegand 发现,通过适当处理的磁性金属丝,内芯和外层存在着较大

的差异性,在一定的条件下便可产生两种状态的转换.对此效应人们称之为威根德(Wiegand)

效应,类似于这种特征的丝称之为威根德丝。用这种丝制成的磁敏传感器，在经过磁场的 NS

变化时，可产生无需供电的尖峰脉冲，威根德传感器具有工作温度高(可达 200℃),不需要任

何外加电源便可输出较高的脉冲电压(可达 5~6V),可直接与计算机接口.因而在许多场合己

得到应用。以这种原理制成的传感器叫“威根德传感器"，这种传感器几乎无需电源，甚至

其产生的尖峰可以用电容存储，以威根德传感器内部计数并尖峰微小能量由电容存储的编码

器，早在上个世纪 90 年代即产生了产品，但是当时的技术条件性能很不稳定，在近年低功

耗电子元器件的出现，使得这个产品渐渐成熟走向市场，但是它的可靠性有限，目前只能用

于计圈数，（因计圈数次数少，频次低，可靠性因素反映出现概率低），而单圈码盘用值

码盘（例如磁电原理）。

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