快速温变试验箱 可编程 性能稳定 返回列表页

快速温变试验箱 可编程 性能稳定

设备描述：

该产品适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等，同时通过此装备试验，可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。高低温冲击试验箱是航空、汽车、家电、科研等领域的所需测试设备，考核和确定电工、电子、汽车电器、材料等产品，在进行高低温试验的温度环境冲击变化后的参数及性能，使用的适应性，适用于学校，工厂，研位，等单位.

快速温变试验箱 可编程 性能稳定

型号：TEB-225PF

技术参数：

1.温度范围：-20℃～150℃
2.湿度范围：20%～98%R.H
3.温度均匀度：≤±2℃（空载时）
4.湿度均匀度：+2%-3%R.H
5.温度波动度：≤±0.5℃（空载时）
6.湿度波动度：±2%
7.温度偏差：≤±2℃
8.湿度偏差：≤±2%
9.降温速率：0.7～1.0℃/min
10.升温速率：1.0～3.0℃/min
11.时间设定范围：0～999小时
12.电源电压：380V±10%
13.设备总功率：3KW～15KW

执行标准:

GB10589-2006 低温试验箱技术条件

GB10592-2006-40℃高低温实验箱技术条件

GB11158-2006 高温试验箱技术条件

GB/T2423.1-2001 试验A：低温试验方法

GB/T2423.2-2001 试验B：高温试验方法

GB/T5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法