半导体多功能 快速温变试验箱 返回列表页

半导体多功能 快速温变试验箱

用途：

设备用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温交变湿热环境下贮存、运输、使用时的适应性试验；是各类电子、电工、电器、塑胶、光纤、LCD、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐湿、耐干性试 验及品管工程的可靠性测试设备。

半导体多功能 快速温变试验箱

控制系统

1.温度控制仪:采用高精度触摸屏温控仪，控制*确、平稳，长期运转不漂移。

2.传感器：PT100测温传感器。

3.控制加热输出采用固态继电器过零触发，以降低噪声，减少污染，方便维修，提高控制精度。

4.在控制系统中需设有安全保护措施，包括：缺相保护、相序错误保护、相电压不平保护、风机过载保护、超温断电保护、漏电等保护。

5.控制系统设有方便用户的操作面板，设在试验箱左上部，设有电源、照明和各功能操作按键以及故障指示灯。

6.在系统中除了主控制器外，还设置一独立的超温保护器，即使主控制器出现故障，超温保护器也能可靠的断开加热电源以保护设备和试品的安全。

7.在电气控制系统中设有互锁装置，当循环风机没有启动或过载时制冷机组和加热系统不能启动，机组超高压、过载时制冷机组都将被禁止。

执行标准

1.GB/T2423.1-2001;

2.GB/T2423.2-2001;

3.GB/T10592-2008;

4.GB/T10589-1989;

5.GB/T11158-1989;

6.IEC68-2-1；

7.IEC68-2-2；