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智能卡扭曲测试仪主要用于RFID电子标签抗扭曲性能的检测和少量电子标签抗弯曲应力性能的检测。
智能卡扭曲测试仪主要技术参数要求：
1）扭曲度： ±15°±1° 双向d=86 mm，正反向各15°，总扭曲角度30°
2）长边大位移量：70mm（±1 mm）
3）长边小位移量：40.375mm±0.50mm
4）短边大位移量：30mm（±1 mm）
5）短边小位移量：23.3mm（±1 mm）
6）支持标准： Q/GDW 1893-2013
7）测试速度： 30r/min,0.5Hz
8）测试周期： 1~9999次
用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。
