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光学比较测角仪 轴端面垂直度测量仪
型号：GR/XQ60
光学比较测角仪
用途和特点：
可广泛适用于光学及机械制造业中，计量部门、车间以及研究院、所的实验室。实施光学棱镜、光学平板的自准测量、参照标准角规对金属零件及光学零件的比较测量；导轨的直线度及平板的平面度校准测量；两个平面的垂直度、轴与轴端面垂直度测量等。
该系列仪器操作简便、直观，测量稳定可靠，借助辅助设备用途广泛。
技术参数：
型号 | 示值 | 分度范围 | 目镜放大倍率 | 示值不确定度 | 工作距离范围 | 外形 |
XQ60-ZⅠ | 1′ | V60′,H40′ | 10×/15× | ±6″ | 0～1.4m | 200×250×400 |
XQ15-ZⅡ | 15″ | V50′,H38′ | 20× | ±3″ | 0～1.4m | 200×250×400 |
选配件：
CCD监控系统（适用ZI型）