holmarc LOE-03 表征光学材料Z-Scan system

Z扫描技术是一种简单且流行的实验技术，用于测量材料的强度相关非线性磁化率。

Holmarc的Z扫描系统（型号：HO-ED-LOE-03）是z扫描技术的简单实现，可用于表征光学材料。

实验范例

    测量材料的强度依赖性非线性磁化率

与z-扫描相关的两个可测量量是非线性吸收和非线性折射。这些参数与三阶非线性磁化率的虚部和实部相关，并提供有关材料特性的重要信息。

特征
 

    表征光学材料的非线性特性

    光谱响应范围为320-1100nm的光电探测器

    黑色阳极氧化机械零件

    光学面包板使系统灵活

    高精度光学

    用户友好软件

此款产品不用于医疗，不用于临床使用，此产品仅用于科研使用。