菲希尔x射线测厚仪

菲希尔x射线测厚仪,是X射线荧光镀层测厚及材料分析仪， FISCHERSCOPEX-RAY XUL和XULMXUL系列型号的X射线荧光光谱仪，设计紧凑，用于测量镀层厚度和分析材料。X射线源和接收器位于测量室的下方。这样可以简便而精确地放置样品。常见型号：FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240

菲希尔x射线测厚仪

XUL仪器适合测量不同形状的细小工件，如螺丝，螺钉或螺帽，连接器触点及其它电子元器件。它还适合快速、简便地测量电镀液中的金属含量。配备微距焦射线管的XULM仪器，适用于测量非常小的工件，如接插件和线材。它还配备了四个用马达调整的准直器和三个不同材料的基本滤波器，用于提高测量的灵敏度。特别适用于测量接插件和线路板，也适用于珠宝和手表业。

菲希尔x射线测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XULM 仪器是用户界面友好的台式测量仪。根据用户不同的使用需求，其配置了手动XY轴工作台，用于细小样品的精确定位。为了样品定位简单快捷，X射线发生器和比例接收器都集成在仪器下部舱室中，因而样品的底部是实际被测量面，样品则由一层透明的薄膜托放在测量室中。虽然仪器采用了紧凑型设计，但是其配置的超大测量室，使得对大型工件的测量也是同样的得心应手。

 

 

所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM软件在电脑上完成。

FISCHERSCOPE XULM 240 DIN ISO 3497 标准和 ASTM B 568标准。作为保护的仪器，其型式许可符合德国＂Deutsche Röntgenver-ordnung-RöV＂法规的规定。