ED400测厚仪

ED400测厚仪的基本工作原理是,当测头与被测式样接触时,测头装置所产生的高频电磁场, 使置于测头下的金属导体产生涡流,其振幅和相位是导体与测头之间非导电覆盖层厚度的函数. 即该涡流产生的交变电磁场会改变测头参数,而测头参数变量的大小,并将这一电信号转换处理,即可得到被测涂镀层的厚度.

ED400测厚仪适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。

仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查， 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。

 特点：

  ED400型涡流测厚仪测量范围0～500 μm。

  测量精度达到2%。
  分辨率达到0.1 μm。
  只校正“0”和“50 μm”两点，即可在全量程范围内保证设计精度。
  基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量误差不大于1～2 μm。
  采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化，仪器可靠性提高。
  采用*进的温度补偿技术，测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场长期使用。
  采用高强度磁芯材料，微调了探头设计，探头芯寿命可大大延长。

技术参数：

标准配置：

主机1台、探头一个、基体一片（6063铝合金）、校正片一套4片（附检测报告）、仪器箱1个

可选配置：

备用探头、基体、校正片（附检测报告）