产地类别 | 国产 | 应用领域 | 石油,电子/电池,道路/轨道/船舶 |
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产品简介
详细介绍
Fluke TiS75-红外成像仪概述:
- 通过专有的 IR-Fusion® 融合和 PIP 模式快速找出问题 – 捕捉所需细节以分析问题并清楚识别所在位置
Fluke TiS75-红外成像仪主要特性:
- D:S(距离与光点尺寸比)为 504:1
- 温度测量范围 -20 °C 至 550 °C(–4 °F 至 1022 °F)
技术参数:
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参考价 | 面议 |
更新时间:2019-06-28 15:08:45浏览次数:484
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