Complete SS-OCT测试系统IVS-2000-ST

Complete SS-OCT测试系统IVS-2000-ST

应用

• 工业非侵入式检测 薄膜厚度（表面保护膜、涂层等）
• 瑕疵检测（合成树脂、塑料、半导体、涂层 等）
• 生物&医学显微检测

特征

• 非接触、非破坏、非侵入测量
• 高达30fps 实时、成像
• 1D&2D&3D的成像功能
• 检测数据的连续保存功能
• 扫描角度可以自由设定
• OCT图像数据、实时数据的输入、输出
• 根据客户的要求定制硬件、软件 （option）
• LabVIEW（VI文件，源代码程序 （option）
• 多普勒&偏光OCT（option）

  IVS-1000/2000/4000 line-up

  Model No.	Center Wavelength	Features	Details
  IVS-4000-ST	1700nm	Low Scatter	MEMS type
  Complete SS-OCT测试系统IVS-2000-ST	1310nm	General and In-line Inspection	Polygon scanner type
  IVS-2000-HR	1310nm	High Resolution	Polygon scanner type
  IVS-2000-LC	1310nm	Long imaging range	MEMS type
  IVS-2000-HS	1310nm	High Speed :100kHz A-line	MEMS type
  IVS-1000-VCSEL	1060nm	Tunable VCSEL	Tunable VCSEL

  系统构成

  If you are interested in the lasers for SS-OCT