扫频测试系统

Santec扫频测试系统通过实时记录可以同时获取可调激光器的输出功率与经过DUT的传输功率，从而准确计算出WDL/PDL的数据。采用Mueller矩阵生成快速的PDL测量方案。
此系统也可简化为使用Santec 数据采集模块(SPU-100)搭配其他光学的功率计或探测器，可广泛用于WDL测试。
通过采样和缩放算法在保持测试方案完整性上可以保持测试性能输出。
另外，该系统尤其适用于DWDM和高Q光子器件光谱特性的测试。通过快速扫描和准确测量可有效节省时间，以确保测试设备的完整性和有效性。

• 实时功率校正
  1 数字准确/ PDL特性测试
  –高功率重复性＜±0.02db
  –高重复性±0.01db PDL
  2激光源功率自动标准化
• 调整方法
  1 高波长分辨率＆高精度
  2 缩短测量时间
• 支持多通道测量
• 支持LabVIEW控制软件
  1 便于建立测量参数
  2 数据分析
• 光学器件和模块特性
  --可调谐滤波器、光交叉波分复用器、光纤布拉格光栅（FBG） 、连接器
• 分离器、 隔离器 、开关
  --WSS、波长阻断器 
  --DWDM器件
• 光学材料特性
• 光学光谱

  构成例

  1/偏振测量相关
  

• 可调谐激光器TSL-710/TSL-550/TSL-510
• Santec PCU-100
• 光学功率计
• 光功率计Santec　MPM-200/Agilent 816xA/B, 774xA 光功率计

• 2/波长相关损耗测量（MPM-200）
  

• 可调谐激光器 TSL-710/TSL-550/TSL-510
• 光功率计Santec MPM-200

• 3/波长相关损耗（其它功率计）
  

• 可调谐激光器TSL-710/TSL-550/TSL-510
• 扫描处理模块SPU-100
• 功率计（需要数据记录功能）

• 软件支持

• Agilent 816xA/B, N774xA光功率计
• Yokogawa AQ2200 系列光功率计
• 光检测器

• 如果需要连接其他设备可以与我们的技术人员取得联系。

  扫频测试系统波长相关损失 (Wavelength Dependent Loss)测量

  1.测量动态范围-可测量80dB以上的高动态范围

  Santec可调谐激光器TSL系列，可降低ASE光噪音、实现了90dB/0.1nm以上*信噪比的同时，可维持+10dBm以上的高功率的输出。高密度波分复用（DWDM）器件和WSS（Wavelength Selective Switch ）等在新一代器件评价中发挥其威力。以下是以各自带通滤波器（CWDM滤波器）和噪音滤波器（FBG）的测量数据。

  

  2.测量的波长精度 +/-3pm

  Santec可调谐激光器TSL系列，配备了高性能的波长检测器可进行波长精度的测量。Acetylene（12C2H2）气体分子作为波长参考

   

   

  3. 测量宽波长分辨率 <0.1pm

  在该扫描测试系统不仅可以测量为测量光学器件（包括密集波分复用（DWDM）器件、波长选择开关 （WSS）等），根据波长扫描分辨率可对滤波器（High Q腔装置）进行高效的测量。

  

  Parameter	Unit	Specications			Notes
  		TSL-550		TSL-710
  		Type A	Type B	–
  Wavelength Accuracy *1 (typ.) (Absolute)	pm	±16	±4.6	±2.4	At 10nm/s
  		±19	±7.2	±5.0	At 40nm/s
  Wavelength Accuracy (typ.) (Relative)	pm	±9	±3.1	±1.6	At 10nm/s
  		±12	±5.7	±4.2	At 40nm/s
  Wavelength Repeatability *2	pm	±6	±1.9	±1.0	At 10nm/s
  		±7	±3.5	±2.6	At 40nm/s
  Scan Speed	nm/s	1 to 100		0.5 to 100
  Dynamic Range for Insertion Loss (typ.)	dB	70
  Dynamic Range for PDL (typ.)	dB	0 to 5
  Measurement Time for IL (typ.)	sec	4			At 40nm/s *4, *5
  Measurement Time for IL / PDL (typ.)	sec	14			At 40nm/s *4, *5
  Wavelength Resolution	pm	1	0.1
  IL Accuracy (typ.)	dB	±0.02			0 to 20dB Device IL
  		±0.03			20 to 40dB Device IL
  IL Repeatability *2, *3 (typ.)	dB	±0.02(±0.01 (typ.))
  IL Resolution	dB	0.001
  PDL Accuracy (typ.)	dB	±(0.02 + 3% of PDL)			0 to 20dB Device IL
  		±(0.15 + 3% of PDL) (typ.)			20 to 40dB Device IL
  PDL Repeatability *2, *3 (typ.)	dB	±0.01
  PDL Resolution	dB	0.01
  Communication	–	USB (USB 2.0 High Speed)			MPM-200 / PCU-100 / SPU-100
  		GP-IB (IEEE488.2)			TSL-550 / TSL-710 / MPM-200 / PCU-100
  Operating Temperature	degC	15 to 35
  Operating Humidity	%	< 80			non-condensing

  * All specifications are quoted after 1 hour warm-up period. 
  All specifications applies with santec optical power meter MPM-200. 
  *1 Temperature within 25°C±5°C
  *2 Temperature within 25°C±1°C
  *3 Does not include influence of connector.
  *4 The measurement condition is within wavelength resolution 5pm, wavelength range 40nm for 1 channel.
  *5 Measurement dynamic range per scan is up to 35dB.