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ZD2009型全自动浊点测定仪技术参数

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更新时间:2017-08-19 11:22:30浏览次数:696

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产品简介

ZD2009型全自动浊点测定仪技术参数ZD2009型全自动浊点测定仪采用MCS-51系列单片机作为系统控制核心,彩色液晶显示屏幕,中文菜单人机对话,向导式操作,测定过程全部自动化。根据标准规定需要自动控制制冷深度,每降低一度就自动检测浊点;采用光导纤维红外光检测技术进行浊点检测。彩色液晶屏幕显示浊点温度、冷阱温度;测定完成后自动显示打印浊点和时间等。并配置触摸智能屏和带有万年历时钟。

详细介绍

ZD2009型全自动浊点测定仪

ZD2009型全自动浊点测定仪采用MCS-51系列单片机作为系统控制核心,彩色液晶显示屏幕,中文菜单人机对话,向导式操作,测定过程全部自动化。根据标准规定需要自动控制制冷深度,每降低一度就自动检测浊点;采用光导纤维红外光检测技术进行浊点检测。彩色液晶屏幕显示浊点温度、冷阱温度;测定完成后自动显示打印浊点和时间等。并配置触摸智能屏和带有万年历时钟。

ZD2009型全自动浊点测定仪

技术指标:

⒈ 智能彩色屏幕
2.试验范围:室温~ -60℃ 分辨率:0.1℃
3.温度元件:铂电阻(Pt100)
4.浊点检测:红外光导纤维光电检测
5.冷        阱:制冷深度:-65℃(复叠式压缩机)
6.电        压:AC220V   50/60Hz     
7.功        率: 800W 
8.测样数量:双孔
9.外形尺寸:400×740×450(mm)

ZD2009型全自动浊点测定仪

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