E8-PMA 贵金属分析仪

E8-PMA 贵金属分析仪是一款高性能专业测试贵金属的能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF)，其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF*技术，核心部件采用美国进口，软件算法采用美国EDXRF前沿技术，仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告；E8-PMA采用小光斑设计，多种工作模型供选择，测试数据*高，稳定性强。

E8-PMA 贵金属分析仪产品特点：

外形特点

● 仪器结构采用人体工程学设计，仪器两侧按成人手臂长度设计，方便移动、搬运

● 上盖倾斜6度角，寓意对客户的尊重

● 表面采用高档汽车喷漆工艺，采用宝蓝、雅致白搭配，蓝色代表科技，白色代表圣洁，寓意对科学的敬仰

● 可视化样品窗

辐射防护 

● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线

● 辐射标志警示

● 迷宫式结构，防止射线泄漏

● 安全连锁设计；测试过程中误打开样品盖时，电路0.1μS快速切断X射线

● 仪器经第三方检测，X射线剂量率*符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》

硬件技术

● 超短光路设计：提高样品分析效率，降低光管功率，延长仪器使用寿命

● 模块化准直器，根据分析元素，配备不同材质准直器，从而降低准直器对分析元素的影响，提高元素分辨率

● 空气动力学设计，加速光管冷却，有效降低仪器内部温度；静音设计

● 电路系统符合EMC、FCC测试标准

● 技术快拆样品盘，更换薄膜更方便

软件技术

● 分析元素：Na~U之间元素

● 分析时间：180秒

● 软件界面简洁，模块化设计，功能清晰，易操作

● HeLeeX ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份，一键还原、一键清理功能保护用户数据安全

● HeLeeX ED Workstation V3.0根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度

● HeLeeX ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能，客户可自行建立自己的工作模型

硬件配置：

探测器

● 类型：X123探测器（采用*高性能电致冷半导体探测器）

● Be窗厚度：1mil

● 晶体面积：25mm2

● *分辨率：145eV

● 信号处理系统DP5

X射线管

● 电    压 ：0~50kV

● zui大电流 ：2.0mA

● zui大功率 ：50W

● 靶    材 ：Mo

● Be窗厚度 ：0.2mm

● 使用寿命 ：大于2万小时

高压电源

● 输出电压：0~50kV

● 灯丝电流：0~2mA

● zui大功率：50W

● 纹波系数：0.1%（p-p 8小时稳定性：0.05%

摄像头

● 微焦距

● 500万像素

准直器、滤光片

● 快拆卸准直器、滤光片系统

● 多种材质准直器

● 光斑大小Φ0.3mm、Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm、Φ7.0mm可选

● 多种滤光片、准直器组合，软件自动切换

其他配件

●进口高性能开关电源

●进口低噪声、大风量风扇

产品规格：

外形尺寸：380 mm x 510mm x 365 mm （长x宽x高）

样品仓尺寸：360mm×330 mm ×50 mm （长x宽x高）

 仪器重量：33.5kg

 供电电源：AC220V/ 50Hz

 zui大功率：330W

 工作温度：15-30℃

 相对湿度：≤85%，不结露

应用领域：

贵金属中金银铜含量检测、贵金属纯度检测、贵金属回收等领域

●贵金属中有害元素检测