非接触式面电阻测试仪Statometer G

非接触式面电阻测试仪Statometer G采用感应式测量原理，无探针接触导电膜层，既可测量表面导电也可测量表面不导电的导电玻璃和导电膜层，是目前Low-E镀膜生产普遍选用的优质选择。

产品特点：

1.非电流接触测试镀膜层；

2.不摩擦刮伤测试涂层；

3.以Ohm/sq或Siemens/sq显示数据；

4.大液晶显示；

5.便携式，具备数据记忆及232接口传输

6.仪器具备锂电子供电

7.以nm级显示膜层厚度及OD（optical density）值（选配）；

8.明亮图像显示数据

非接触式面电阻测试仪Statometer G规格：

测量方法：高频反应（涡流感应）

核心测量范围：0.5…20.00Ω/□

可扩展范围：达50.00Ω/□

解析度：0.5 Ohm: 0.001Ω/□

2 Ohm以上: 0.01Ω/□

20 Ohm以上：0.1Ω/□

精确性：0.5…5.0Ω/□: 5%

5.0…20Ω/□: 7%

20…50Ω/□:10%

测量连续性：2秒钟

串行接口：RS-232（通过插接座连接）

操作环境温度：+10—+45℃

外形尺寸：23cm*7cm*4cm

重量：约510克